日東精工 電阻率自動測量 用于測量ITO薄膜

日東精工 電阻率自動測量 用于測量ITO薄膜

適用于測量ITO薄膜、各種金屬薄膜等的膜厚分布以及傳送帶的電阻率分布。

特征

測量、計算、數(shù)據(jù)處理和3D圖形輸出可以自動化。

（電路板尺寸最大可達 650 x 650 毫米。）

以三維圖形顯示[Ω]、[Ω/□]、[Ωcm]、[S/cm]。

測量位置設置可以通過三種方式一鍵完成：網格輸入和順序輸入。

它可用于廣泛的用途，從研究和開發(fā)到在線抽樣檢查。

有從低電阻率到高電阻率兩種類型。

不受樣品形狀影響，精確測量表面電阻率[Ω/?]和體積電阻率[Ω?cm]

特征

導電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。

能夠繪制最大300mm見方的樣品并連續(xù)測量多個樣品。

可連接到 Loresta GX 以測量 10-4 至 10+7Ω 范圍

全自動測量、計算、數(shù)據(jù)處理和3D圖形輸出

導電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。

隨著顯示器件（液晶和有機EL）要求具有更快的響應速度和更高的清晰度，電極基板的均勻性變得更加重要。

表面電阻率取決于材料。當材料均勻時，薄膜越厚，表面電阻率越低。

在薄膜領域，薄膜厚度變化通過表面電阻率繪圖來評估。

目的

Hiresta-UX 是一款測量電阻率的測量儀器，電阻率是材料的評估標準之一。

測量各種高阻材料的表面電阻率和體積電阻率對于生產技術、質量控制和研發(fā)非常有用。

輕松準確地測量材料的表面電阻率和體積電阻率，用于抗靜電材料研發(fā)、生產線質量控制或材料。

該裝置采用符合JIS K6911的測量方法，可以使用各種探頭測量塑料、薄膜和油漆等多種材料。為了穩(wěn)定地測量

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Ω以上的高電阻材料，最好使用雙環(huán)進行測量。 我們的探頭采用雙環(huán)電極。

主要測量目標

抗靜電材料、建筑材料、地板材料、各種紙張、包裝材料、涂料、纖維、混凝土、陶瓷、樹脂、薄膜等。